一、设备简介

NanoWizard 4 XP是一款由德国JPK公司（Bruker）生产的原子力显微镜（Atomic Force Miroscope, AFM）。它是一款多功能的分析仪器，可用来研究包括固体材料、生物材料等的表面结构及理化性质。

二、检测原理

NanoWizard 4XP原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。检测过程中，微悬臂与样品保持接触，通过激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米量级。

三、功能特色

用于各类材料表面结构、理化信息检测，可实现固体样品、生物样品的分析。

四、技术参数

1、XY方向扫描范围：100*100um

2、Z方向扫描范围：15um

3、超高分辨率4XP scanner，配合Vortis2 高性能控制器

4、DataProcessing数据分析软件包

5、PetriDishHeater加热样品台

五、应用范围

广泛应用于各种无机材料、金属材料、有机材料、复合材料、生物材料、细胞等的表面结构分析；材料表面电学、磁性及模量等的定量；应用于各相关行业的科研、教学和材料生产等领域。