一、设备简介

随着球差矫正技术的发展，透射电子显微镜的空间分辨率进入亚埃级别。球差矫正透射电镜兼具多种功能，可以在原子尺度内同时分析材料的晶体结构及电子结构等信息，是材料微观结构表征的利器，在化学、材料和生物等研究领域具有非常广泛的应用。

JEM-ARM300F2具有原子尺度扫描透射分辨率的明场和暗场成像功能，同时配有高分辨率的X射线能谱仪及电子能量损失谱仪，可实现材料中轻、重元素原子尺度分辨率下同时成像及元素分布分析。搭载有Gatan底插Oneview相机和K3相机，可实现超快低剂量成像。配有原位应力/电场和低温样品台，可实现外场激励下原子尺度相变过程的动态观察。

二、主要特点

（1）超高的空间分辨率。（300 kV:53 pm, 80 kV:96 pm）

（2）超高灵敏度X射线分析。

（3）冷场发射枪。

（4）原位图像分析和应用。